车辆控制单元（VCU）和电机控制单元（MCU）是新能源汽车动力系统中的核心组成部分，它们分别负责整车的控制策略和电机的精确驱动。随着电动汽车技术的快速发展，VCU和MCU的性能和可靠性对整车性能的影响越来越大。硬件在环（HIL）测试技术作为一种先进的开发和验证手段，其在VCU和MCU的开发过程中扮演着至关重要的角色。
1）安全性：通过HIL测试，可以在安全的环境中测试VCU和MCU的极限工况和故障模式，确保车辆在各种情况下的安全性。
2）开发效率：HIL测试可以在早期开发阶段发现问题，减少实车测试的次数，缩短开发周期，加快产品上市时间。
3）性能验证：HIL台架提供了一个可控的测试环境，可以对VCU和MCU的性能进行全面的验证和优化。
4）成本节约：相比于实车测试，HIL测试减少了原型车的需求和测试过程中的物理损耗，有效降低了开发成本。
卓宇信息可以根据客户需求定制VCU+MCU的HIL测试系统，在保证用户当前需求的同时，也可以为将来的扩展提供所需的空间。
我们可以给您提供如下方案：
● 测试机柜软硬件开发；
● 测试机柜软硬件环境集成；
● 系统功能联合调试。
